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X光鍍層測厚儀儀器可檢測范圍
更新時間:2025-06-11   點擊次數:147次
  X光鍍層測厚儀是一種利用X射線穿透材料并激發熒光的原理,通過分析熒光強度來測量鍍層厚度的儀器。其檢測范圍廣泛,以下是其可檢測的典型范圍及應用場景:
  一、X光鍍層測厚儀可檢測的鍍層類型
  1.金屬鍍層
  常見金屬:金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、鎳(Ni)、鉻(Cr)、錫(Sn)、鋅(Zn)、鐵(Fe)等。
  合金鍍層:如鎳磷合金、錫鉍合金等。
  多層鍍層:可同時測量多層結構,并分別給出每層厚度。
  2.非金屬鍍層
  塑料、橡膠、油漆等有機涂層(需配合特定校準)。
  部分無機涂層(如陶瓷、玻璃鍍層)。
  二、X光鍍層測厚儀可檢測的基材類型
  1.金屬基材
  鋼鐵、鋁合金、銅合金、鋅合金、鈦合金等。
  支持復雜形狀基材(如曲面、凹凸面、微小零件),但需注意測試點的有效面積。
  2.非金屬基材
  塑料、橡膠、木材、玻璃等(需選擇適合的X射線管電壓和校準方法)。
  三、厚度檢測范圍
  1.常規范圍
  最小厚度:通??蓹z測到0.01微米(10納米)級別,適用于超薄鍍層(如半導體芯片上的鍍金層)。
  最大厚度:一般可達幾十微米至數百微米,具體上限取決于鍍層材料和儀器型號。
  2.多層鍍層分析
  可測量最多3~5層的多層結構,每層厚度需在儀器靈敏度范圍內。
  例如:鋼鐵基材上的Ni/Cu/Au三層鍍層。
  四、X光鍍層測厚儀元素檢測范圍
  1.原子序數范圍
  通??蓹z測原子序數≥3(鋰)的元素,但實際檢測下限受儀器配置影響。
  輕元素(如Al、Mg):需配備低能量X射線源或真空環境。
  重元素(如Au、Pb):檢測靈敏度更高。
  2.濃度范圍
  鍍層中元素濃度可檢測至ppm(百萬分之一)級,適用于微量元素分析。
 

 

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