更新時間：2025-07-10
微先鋒MicroP XRF-2020膜厚儀標準片可應用各種X射線測厚儀品牌用于校正測厚儀標準及添加測量曲線標準片鍍層測厚儀校正片XRF-2020標準樣片
標準片鍍層測厚儀校正片XRF-2020標準樣片
用于校準和檢驗測厚儀的重要工具。
它具有已知的單位面積質量或厚度的均勻覆蓋層。
-般來說，
選擇測厚儀標準片時需考慮以下因素:
要求:應根據測厚儀的厚度要求和實際測量需要選擇具有相應的標準片。
2.覆蓋層和基體材料:標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料。然而，對于試樣基材為合金成分的情況，有些儀器軟件允許標樣基材與被測試樣基材不同
但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。
3.x射線發射(或吸收)特性:校正標準塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的 x射線發射(或吸收)特性。如果厚度由x射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的
X射線鍍層測厚儀標準塊校正片
MicroP XRF-2020測厚儀標準塊
通用型:可應用各種X射線測厚儀品牌
用于校正鍍層測厚儀
標準曲線及添加應用程序
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等
標準片可訂制，均附帶標準證書
標準片鍍層測厚儀校正片XRF-2020標準樣片
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